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高溫高壓蒸煮儀有哪些失效時期?

點擊次數(shù):126 發(fā)布時間:2022-09-27

  高溫高壓蒸煮儀主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度(100%R.H.)、飽和水蒸氣及壓力環(huán)境下測試,測試代測品耐高濕能力,針對印刷線路板,用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等試驗目的。
  
  如果待測品是半導體的話,則用來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。
  
  高溫高壓蒸煮儀由一個壓力容器組成,壓力容器包括一個能產(chǎn)生100%潤濕環(huán)境的水加熱器,待測品經(jīng)過PINDAR品達環(huán)試PCT試驗所出現(xiàn)的不同失效可能是大量水氣凝結(jié)滲透所造成的。
                                                                 高溫高壓蒸煮儀
  一、澡盆曲線:
  
  澡盆曲線,又用稱為浴缸曲線、微笑曲線,主要是顯示產(chǎn)品的于不同時期的失效率,主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(隨機失效期)、損耗期(退化失效期),以環(huán)境試驗的高溫高壓蒸煮儀來說得話,可以分為篩選試驗、加速壽命試驗(耐久性試驗)及失效率試驗等。進行可靠性試驗時"試驗設計"、"試驗執(zhí)行"及"試驗分析"應作為一個整體來綜合考慮。
  
  二、常見失效時期:
  
  早期失效期(早夭期,InfantMortalityRegion):不夠完善的生產(chǎn)、存在缺陷的材料、不合適的環(huán)境、不夠完善的設計。
  
  隨機失效期(正常期,UsefulLifeRegion):外部震蕩、誤用、環(huán)境條件的變化波動、不良抗壓性能。
  
  退化失效期(損耗期,WearoutRegion):氧化、疲勞老化、性能退化、腐蝕。

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